Аннотация: Рассмотрен способ повышения чувствительности измерений, основанный на нелинейной фоторегистрации интерференционной картины и обработки ее при помощи программы Femtoscan.

Ключевые слова: двухлучевой микроинтерферометр; нелинейная фоторегистрация; отражательная дифракционная решетка, программа Femtoscan, чувствительность измерений.